用于系統(tǒng)級(jí)測(cè)試和pCB配置的高級(jí)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)

本文討論的SELEX空中特種使用了可擴(kuò)展設(shè)計(jì)，它具有動(dòng)態(tài)可重復(fù)配置的活動(dòng)背板，為多個(gè)矢量計(jì)算（Vp）板卡進(jìn)行服務(wù)。當(dāng)出現(xiàn)板卡故障時(shí)，這樣的設(shè)計(jì)可以利用智能背板，通過關(guān)閉可疑板卡的電源對(duì)服務(wù)進(jìn)行降級(jí)。主通信處理器允許通過EFA總線標(biāo)準(zhǔn)、特種總線接口、接收器接口和視頻接口對(duì)Vp板卡進(jìn)行訪問。

在測(cè)試系統(tǒng)中，NIpCI-6533用作位于每個(gè)SRI（商店可替換品）上EMId（電子模塊標(biāo)識(shí)）設(shè)備的接口。它們帶有元件編號(hào)和序列號(hào)數(shù)據(jù)等等，還包括最近故障檢測(cè)日志。pCI-DIO-96被作為一個(gè)使用CpLD、有160個(gè)管腳的DIO，CpLD將來自測(cè)試控制器pC的I/O板卡的輸出和輸入進(jìn)行多路復(fù)用。該系統(tǒng)包括了可選的輸入事件阻塞（用于捕捉瞬態(tài)事件）以及所有雙向操作。16個(gè)I/O管腳用作控制和狀態(tài)信號(hào)CONTROLENGINEERINGChina版權(quán)所有，而其他80個(gè)管腳通過多路復(fù)用，提供了160個(gè)輸出和160個(gè)輸入，用于對(duì)數(shù)字接口進(jìn)行仿真和測(cè)試。

JTAG/邊界掃描測(cè)試和ISp（在系統(tǒng)編程）是系統(tǒng)的核心部分，現(xiàn)在被認(rèn)為是用于檢查在生產(chǎn)和原型開發(fā)調(diào)試中線路板（pCBs）和系統(tǒng)是否出現(xiàn)裝配故障以及在發(fā)布設(shè)備中是否出現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)故障的主要手段。

邊界掃描測(cè)試依賴于內(nèi)置的測(cè)試電路以及現(xiàn)代的高度集成的電子設(shè)備（與IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1兼容），邊界掃描測(cè)試需要由四個(gè)或五個(gè)數(shù)字接口組成的最小測(cè)試接口。這與傳統(tǒng)釘板測(cè)試系統(tǒng)的巨大形成了鮮明的對(duì)比CONTROLENGINEERINGChina版權(quán)所有，釘板測(cè)試系統(tǒng)需要數(shù)百個(gè)甚至上千個(gè)測(cè)試探針連接。因此，邊界掃描測(cè)試器將會(huì)降低到串行協(xié)議接口單元的大小，該單元可由pCI、pXI或是緊湊型工作臺(tái)（USB/以太網(wǎng)）控制單元提供。將電源簡(jiǎn)單地添加到系統(tǒng)中就可以將自治pCB測(cè)試器投入工作。此外，利用ScanBridgeTAp多路復(fù)用器對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行細(xì)致的設(shè)計(jì)，就可以用單個(gè)控制器訪問系統(tǒng)中的一系列pCB，這樣就構(gòu)建了系統(tǒng)/LRI（線路可替換品）測(cè)試器。